为什么要做老化试验
产物老化的意义:随着电子技术的发展,电子产物的集成化程度越来越高,结构越来越细微,工序越来越多,制造工艺越来越复杂,这样在制造过程中会产生一些潜伏缺陷。电子产物在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产物的质量问题概括有两类,*类是产物的性能参数不达标,生产的产物不符合使用要求;第二类是潜在的缺陷,这类缺陷不能用一般的测试手段发现,而需要在使用过程中逐渐地被暴露,如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活(暴露)。显然,对每只元器件测试一千个小时是不现实的,所以需要对其施加热应力和偏压,例如进行高温功率应力试验,来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产物施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力,模拟严酷工作环境,消除加工应力和残余溶剂等物质,使潜伏故障提前出现,尽快使产物通过失效浴盆特性初期阶段,进入高可靠的稳定期。而通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露,老化后再进行电气参数测量,筛选剔除失效或变值的元器件,尽可能把产物的早期失效消灭在正常使用之用,从面保证出厂的产物能经得起时间的考验。老化的意义总结而言是通过对电子产物施加加速环境应力,如温度应力、电应力、潮热应力、机械应力等,促使潜在缺陷加速暴露成故障,达到发现和剔除潜在缺陷的目的。
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